новости

Открыта регистрация на практический Семинар «Микроскопия и метрология»

24 Мар 2017 13 апреля 2017 года с 10.00 до 17.00 совместно с компанией «ОПТЭК» проводится практический семинар «Микроскопия и метрология».

На семинаре будет представлено оборудование ведущих мировых производителей в области микроскопии и метрологии поверхности (Zeiss, Bruker и Triebworx) с возможностью апробации и исследования своих образцов.

Программа семинара:
10:00 – 10:15 приветственное слово представителей «ОПТЭК» и ULNANOTECH
10:15 – 11:00 практическая сессия по световой микроскопии Zeiss
11:00 – 11:45 практическая сессия по оптической профилометрии Bruker
11:45 – 12:00 Кофе-брейк 
12:00 – 12:45 практическая сессия по промышленной метрологии и контролю
12:45 – 13:30 практическая сессия по цифровой микроскопии Zeiss
13:30 - 13:45 Пробоподготовка: материалы и методики 
13:45 – 15:00 Обед 
15:00 – 16:00 Посещение лабораторий ULNANOTECH: Металл-композит, Comberry, Rugadget
16:00 – 17:00 Свободное время для обсуждения конкретных задач посетителей семинара

Для участия в семинаре необходимо пройти регистрацию по ссылке: https://goo.gl/K0MidL.


Приглашаем Вас стать участником семинара, и надеемся, что он окажется полезным в Вашей профессиональной деятельности!